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中子和gamma辐射剂量测量技术

  • 申请号： 申请公布号：
  • 申请日： 申请公布日： 2017-01-17
  • 申请（专利权）人：BI434205671 专利代理机构：
  • 分类号：

专利介绍

能实现环境中及辐射场所中子和gamma射线的辐射剂量测量，并且能实现同时中子和gamma射线的剂量测量，此外，既能对强辐射场测量，又能对微弱的辐射场测量，能够将环境中微弱的中子和gamma射线辐射剂量监测出来。

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